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材料编辑器

材料编辑器是你管理 TFStudio 所知的每一个折射率来源的地方。每种材料提供折射率 n(λ) 与消光系数 k(λ);吸收材料具有 k > 0。应用中每个要求你选择材料的下拉框都从这里读取。

材料按来源分组到各个目录中:

目录 来源 可编辑性
内置(Built-in) 一组精选的 16 种常见光学材料。 只读
AGF 放置在你的 TFStudio 材料文件夹中的 Zemax .agf 文件。 通过文件
用户(User) 你在 TFStudio 内部创建的材料与目录。
RefractiveIndex 你从 refractiveindex.info 数据库导入的材料。

左侧面板包含目录选择器、搜索框与材料列表;右侧面板显示所选材料。内置与 AGF 材料显示只读详情(属性、色散公式、列表数据,以及 n/k 图表);用户与导入材料在可编辑表单中打开。

目录选择器:选择单个目录或全部(All)。选择器显示每个目录的材料数量,其下方是管理所选目录的操作。

搜索:按名称过滤列表(不区分大小写)。过滤器遵循你所选择的目录。

导入 AGF:将一个 Zemax .agf 玻璃文件作为新目录加载。AGF 文件存储内部透射率随波长的变化;TFStudio 会自动将其转换为 k(λ)。你放置在 TFStudio 材料文件夹中的 AGF 文件在应用启动时也会自动被拾取。

导入材料文件:加载其他镀膜软件写出的材料文件,可一次选择多种来源的文件:

程序 文件
TFCalc MATERIALSUBSTRAT 文件夹中的 .mat
Essential Macleod 材料数据库文件夹中的 .tfx,或通过 File → Export → Material 导出的 .mtx
OptiLayer .lm.sub

导入对话框列出读取到的每种材料及其来源程序与数据类型(带点数的表格,或以原程序名称给出的公式),并预览当前选中的材料:公式与系数或表格数据行,以及 n/k 图表。取消勾选不需要的材料,选择要添加到的目录,或创建一个新目录。

TFCalc 与 Essential Macleod 的文件不记录波长单位。对话框默认按纳米处理;当 .tfx 文件位于其数据库文件夹中时,会读取该 Essential Macleod 数据库自身的单位设置;如果预览中的曲线位置不对,可切换为微米。

公式材料在 TFStudio 具有相同形式时保留公式。TFStudio 没有的 TFCalc 形式(Hartmann、Drude 以及所有 k 公式)会在文件声明的范围内采样为表格。Essential Macleod 的内部透过率表在这里没有对应项,因此不导入;k 列按原样导入。Essential Macleod 材料库中的压缩文件无法读取:请先在 Essential Macleod 中打开该材料并保存到你的数据库中。

浏览 RII:打开 refractiveindex.info 浏览器,从在线数据库中选择(首次获取材料时需要互联网连接)。该材料被添加到你选择的用户目录中,之后即存在于本地。

新建目录:创建一个空的用户目录来组织你自己的材料。

复制:将所选目录(来自任何来源)复制到一个新的、可编辑的用户目录中。复制到目录将单个材料复制到一个用户目录中,这是制作只读材料的可编辑变体的方式。

打开一个用户目录并选择新建材料,然后选择一种数据类型:

  1. 列表(Tabular):粘贴或输入一个 λ, n, k 表格。你可以直接从电子表格粘贴(Ctrl+V),网格支持键盘导航、排序与逐单元格编辑。
  2. 公式(Formula):选择一种色散公式(Sellmeier、Cauchy、Conrady、Schott、Herzberger 及其他标准形式),输入其系数,并可选择添加一个 λ, k 表格以表示吸收。公式会被完整渲染,以便你确认其约定。Cauchy 与通用 Sellmeier 形式可添加任意多项;保存材料时,保持为零的项会被丢弃。

一个实时的 n/k 图表会随你的编辑更新,你设置的波长范围界定了材料有效的边界,也是图表显示的范围。图表下方可输入一个波长以读取该处的 nk,并有一张采样表列出曲线的数值。只读材料的图表下方也有同样的查询框与表格。

TFStudio 使用保形(shape-preserving)PCHIP 插值来评估每个列表化的 nk 列。曲线穿过每一个提供的点,并保持在每一对括值点的值范围之内,因此一个非负的 k 表格不会因插值过冲而获得光学增益。在列表范围之外,最近的端点值被保持恒定。PCHIP 定义了测量值之间的数值;它不会添加表格中缺失的测量信息。

一个可编辑的列表材料可以存储一个显式的平滑拟合,用于需要高阶导数的计算。透明材料可对 n 使用 Cauchy 或一到三项的 Sellmeier 模型;当表格包含足够多的正值时,k 使用非负的 Urbach 形式,否则保持为零。金属可使用耦合的 Drude 或 Drude-Lorentz 介电模型,该模型同时拟合 nk。拟合使用材料所述的波长范围,绝不使用某个分析窗口的范围。

选择**拟合(Fit)重新拟合(Refit)**来计算它。TFStudio 会显示 nk 的 RMS 与最大残差,以及一张残差图。在使用该模型之前请检查这些误差。拟合不会在后台静默创建。它存储在材料上,随嵌入式用户材料一起携带,并在其源表格发生变化时自动移除。内置材料保持只读;在拟合不同表示之前,请先将其复制到一个用户目录。

对于内置或导入材料,n/k 图表显示实部折射率 n(左轴),以及(当存在时)消光系数 k(右轴,虚线)。属性面板在来源提供时列出 d 线折射率、阿贝数、密度与波长范围,并在材料基于公式时列出色散公式与系数。一个具有平坦、零 k 的材料在所绘范围内是非吸收的。

目录被保存到你的 TFStudio 材料文件夹中,并在各会话之间持久存在,因此一个导入或手工构建的材料在你下次打开应用时仍然可用。

  • M. N. Polyanskiy, refractiveindex.info(公共领域色散数据)。
  • F. N. Fritsch and J. Butland, “A Method for Constructing Local Monotone Piecewise Cubic Interpolants,” SIAM Journal on Scientific and Statistical Computing 5, 300-304 (1984)。
  • A. D. Rakić et al., “Optical properties of metallic films for vertical-cavity optoelectronic devices,” Applied Optics 37, 5271-5283 (1998), doi:10.1364/AO.37.005271
  • 由内部透射率得到消光系数的 Beer–Lambert 关系:k(λ) = −λ / (4π d) · ln τ_int(λ)