规格说明

规格说明窗口将你的设计要求保存为一组 PASS/FAIL（通过/失败）限定符：“在 450–650 nm 上平均 T ≥ 99 %”、“在 550 nm 处 R ≤ 0.5 %”、“不超过 30 层”，等等。它是镀膜必须满足的、人类可读的契约，与优化器最小化的评价函数分开保存。每个限定符都带一个容差来回答一个是/否问题，一个按钮将整个列表转换为评价操作数，以便你能够精确地朝着你所指定的内容进行优化。

每一行都针对活动设计进行评估，并在每次更改时重新计算，显示逐行判定与顶部的整体 PASS/FAIL 徽标。

限定符种类

种类	询问	单位
λ 处的 T / R / A	单波长下的通道值与目标值比较。	%
T / R / A 平均	波长范围内的带平均通道值。	%
最小 / 最大	一个通道在带上的最坏情况极值（捕捉尖峰）。	%
积分	源 × 探测器加权度量（例如 T_vis、T_sol）。	%
中心 λ	通带或边缘特征的中心波长。	nm
FWHM	一个特征在半高处的全宽。	nm
边缘 λ	通道穿过某个电平的波长（一个滤波边缘）。	nm
厚度预算	总物理堆栈厚度。	nm
层数	堆栈中的层数。	计数

设置

每一行只暴露适用于其种类的字段：

种类：上述限定符种类之一。通道选择 T、R 或 A（对于“在波长处”与“平均”种类固定）。λ / 带是单个波长或起始/结束范围。AOI 与 pol 设置光学种类的入射角与偏振。

比较与目标：实际的测试。你可以要求 ≥、≤、等式 = ± tol，或一个范围 ∈ [lo, hi]，针对你输入的目标值（T/R/A 为百分比；几何种类为纳米或计数）。

预设：放入一组为常见镀膜类型准备好的需求集，替换或追加到当前列表。你也可以将当前列表保存为你自己的可复用预设，并在之后加载回来。

如何阅读它

每一行都带一个彩色判定：通过时为绿色与对勾，失败时为红色与叉号，并在目标旁显示测量值。顶部的横幅仅当每个活动行都通过时才变绿，并报告总数中有多少正在通过。一个失败的行会添加一行简短摘要，解释偏差所在。

对于阻带抑制，优先使用最小 / 最大（最坏情况）种类：一个带平均可能通过，而一个窄共振却会尖峰穿过它。一旦你的需求就位，生成 MF 会将它们作为 OPGT/OPLT 评价操作数写入设计中：每个规格变成一个测量行外加一个引用它的单边目标，因此精炼与综合工具直接朝着规格优化，并与它保持同步。规格与设计一起保存在项目文件中。

参考文献

• H. A. Macleod, Thin-Film Optical Filters, 5th ed., Ch. 7（滤波规格：中心波长、FWHM、边缘）。